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高光譜礦物識(shí)別與礦物填圖的應(yīng)用案例

2024-05-17

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高光譜礦物識(shí)別與礦物填圖的技術(shù)體系和工作方法

2024-05-16

礦物識(shí)別限是指高光譜所能檢測(cè)到的礦物最低像元豐度，即像內(nèi)礦物的最小平均豐度。利用反演的礦物分布強(qiáng)度與礦物實(shí)測(cè)豐度相關(guān)分析估計(jì)高光譜礦物的識(shí)別限。..

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